• Mikroskopiezentrum mit komplementären Methoden aus der hochauflösenden Oberflächen-/Nanoanalytik
• Organisation als DFG-Gerätezentrum (Interdisciplinary Center for Analytics on the Nanoscale, ICAN)
• Servicemessungen für interne und externe Forschergruppen

Für diesen Ansatz verfügen wir über einen umfangreichen und einzigartigen Geräte- und Methodenpool. Neben spektroskopischen, mikroskopischen und beugungsbasierten Techniken zur strukturellen Analyse und zur Untersuchung dynamischer Prozesse bietet ICAN auch Charakterisierungsverfahren, um Zieleigenschaften wie die elektrische und thermische Leitfähigkeit, die Photoleitfähigkeit oder die optische Absorptivität von Nanomaterialien zu untersuchen. Den zentralen Schwerpunkt von ICAN bildet das Mikroskopiezentrum im NETZ-Forschungsbau. Hier gibt es spezielle Labors, in denen die hochauflösenden Mikroskopietechniken störungsfrei betrieben werden können:

• Ein hochauflösendes, aberrationskorrigiertes Transmissions-Elektronenmikroskop (Cs-korrigiertes TEM) für die morphologische, chemische und strukturelle Charakterisierung auf der atomaren Längenskala
• Ein Mikrofokus-Röntgen-Photoelektronen-Spektrometer (Mikrofokus-XPS) zur Analyse der chemischen Zusammensetzung und Struktur und der Bindungskonfiguration der Elemente, z. B. des Oxidationsgrads
• Ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer (TOF-SIMS), um detaillierte Tiefenprofilanalysen und 3D-Analysen der chemischen Zusammensetzung mit einer Empfindlichkeit im ppm-Bereich durchzuführen
• Ein Raster-Auger-Elektronenmikroskop (SAM) zur Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Ober- und Grenzflächen mit höchster lateraler Auflösung bis in den Sub-10-nm-Bereich und zur schnellen Charakterisierung einzelner Nanostrukturen
• Ein Rasterkraftmikroskop/Rastersondenmikroskop (AFM/SPM) zur Vermessung von Oberflächenstruktur, -topographie und -morphologie sowie zur lateral aufgelösten quantitativen Untersuchung von chemischen, mechanischen und elektrischen/elektronischen Oberflächeneigenschaften

Ergänzt wird dieses Spektrum durch umfangreiche Methoden zur Probenpräparation und zahlreiche Analysetechniken in den einzelnen Arbeitsgruppen der CENIDE-Mitglieder. Der Zugang zu den Geräten sowie die Auftragsannahme sind zentral organisiert: www.cenide.de/ican

• Prof. Dr.-Ing. Stephan Barcikowski (Analytische Ultrazentrifugation)
• Prof. Dr. Matthias Epple (Elektronenmikroskopie)
• Prof. Dr. Michael Farle (Transmissionselektronenmikroskopie, Magnetometrie)
• Prof. Dr. Nils Hartmann (TOF-SIMS)
• Prof. Dr. Michael Horn-von Hoegen (Photoemission Electron Microscopy, Low Energy Electron Microscopy)
• Prof. Dr. Axel Lorke (Elektronenmikroskopie, Focused Ion Beam)
• Prof. Dr. Frank-J Meyer zu Heringdorf (Wissenschaftlicher Direktor ICAN)
• Prof. Dr. Rolf Möller (Rastersondenmikroskopie)
• Prof. Dr. Hermann Nienhaus (Photoelektronenspektroskopie, Augerelektronenspektroskopie)
• Prof. Dr. Roland Schmechel (photoelektrische, elektrische und thermische Transporteigenschaften)
• Prof. Dr. Christof Schulz (In-situ-Lasermesstechnik)
• Prof. Dr. Heiko Wende (Mößbauerspektroskopie, Röntgenabsorptionsspektroskopie)
• Prof. Dr. Andreas Wucher (Sekundärionenmassenspektrometrie)

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