• Dr.-Ing. Volker Wittpahl
  Thema: "Entwicklung einer elektrischen Rasterkraftmikroskopie- Messtechnik zur quantitativen Bestimmung von Gleich- und Wechselspannungen bis über 100 GHz in integrierten und mikroelektrischen Schaltungen"
  (Tag der mündlichen Prüfung: 21.01.2000)

• Dr.-Ing. Andreas Radefeld
  Thema: "Simulation von Elektronenbeugungsmustern für mesoskopische Halbleiterheterostrukturen"
  (Tag der mündlichen Prüfung: 14.03.2000)

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