• C. Hartmann, W. Mertin, G. Bacher
  "Circuit internal signal measurements with a needle sensor"
  16^th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ESREF 2005, 10. –14. Oktober 2005, Arcachon, Frankreich

• W. Mertin, C. Hartmann, K.-D. Katzer, A. Lochthofen, G. Bacher
  "Nanoanalyse elektronischer und optoelektronischer Bauelemente"
  23. Diskussionsitzung “Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien” des ITG-Fachausschusses 8.5, Grainau, 03.-04. Mai 2005

• K.-D. Katzer, W. Mertin, G. Bacher, V. Khorenko, Q. T. Do, F. J. Tegude, W. Prost
  "Deposition technique, topology, and electrical characterization"
  Project-Review Meeting, Madrid, Spanien, 01.02.2005

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