Der Ion Slicer (IS) dient der Präparation von Dünnschichtfilmen mit Argon-Ionen.

Mit dieser Methode können Proben für TEM-, STEM-, SEM- und Mikrosondenuntersuchungen ohne die Verwendung von Lösungsmitteln oder Chemikalien hegestellt werden.

Die Bauweise des IS mit verfahrbarer Abschirmblende, die dem Probenschutz dient, erlaubt einen flachen Einfallswinkel des Ionenstrahles von 0° bis 6°, was die Strahlschädigung der Probe und die damit verbundene Amorphisierung reduziert.

Die Probe kann während des Polierprozesses um ±30° gekippt werden, um einen homogenen Polierbereich zu präparieren.