Analytik
Wir bieten Ihnen die folgenden analytischen Methoden:
Größe, Morphologie & Topographie
- Analytische Ultra-/Scheibenzentrifugation (AUC / ADC)
- Lichtmikroskopie (LM)
- Profilometrie
- 3D optisches Profilometer
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
- Rasterkraftmikroskopie (AFM)
- Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Kristallstruktur & Defekte
Chemische Struktur & Zusammensetzung
- Analytische Ultra-/Scheibenzentrifugation (AUC / ADC)
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
- Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS)
- Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS)
- Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS)
- Raman-Spektroskopie
- Raster-Augerelektronenmikroskopie (SAM)
- Thermogravimetrische Analyse (TGA)
Elektronische Struktur
- Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS)
- Ultraviolett-Photoelektronen-Spektroskopie (UPS)
- Rastersondenmikroskopie (SPM)
Physikalische & Chemische Eigenschaften
Rastersondenmikroskopie (SPM)
Datenblätter der Großgeräte
Die Datenblätter geben einen schnellen Überblick über die Einsatzgebiete der einzelnen Geräte. Auflösung, Detektionsbereich, Analysetiefe, Empfindlickeit und weitere Details.