• XRD System speziell für polykristalline Proben, Pulverproben and Nanopartikel
• Großwinkel XRD (2θ) zur Phasenanalyse
• 0.001° Goniometer Auflösung
• Rocking Kurve (ω) zur Bestimmung von Kristallitgrösse und Mosaizität in kristallinen Materialien
• Kleinwinkelstreuung (XRR) zur Bestimmung von Dicke, Rauhigkeit und Dichte dünner Schichten (<200nm)
• Anode: Cu Röntgenstrahlung, gewichtete Wellenlänge: 0.15418 nm
• Optiken für den einfallenden Strahl: Programmierbarer Divergenzspalt mit Strahlabschwächer & Hybridspiegel für Parallelstrahl
• Probenbühnen: Bracket, Spinner (für Pulverdiffraktometrie), Kapillar-Spinner (für Partikel in Lösung), justierbare IR-Probenbühne (für Dünnschichtuntersuchung)
• Optiken des gebeugten Strahls: PRS/PASS & gebogener Monochromator, Parallelplatten-Kollimator (& flacher Monochromator)
• Detektoren: Panalytical X'Celerator (für schnelle, genaue Messungen), Großfenster Proportionalzähler

Kontakt:
M. Farle
M. Acet

5 - Achsen-Probenbühne - infrarot-ferngesteuert

• 2Theta/Theta (automatisch)
• Omega (manuell)
• Psi (manuell)
• Phi (manuell)

Bracket-Probenbühne

• 2Theta/Theta (automatisch)

Spinner Probenbühne

• 2Theta/Theta (automatisch)
• Geschwindigkeit regelbar

Kapillar-Spinner Probenbühne

• 2Theta/Theta (automatisch)
• Geschwindigkeit fest