Kritischpunkttrockner Leica EM CPD 300
Raum 1.035 1.OG im MFZ Gebäude
Mit diesem Kritischpunkt-Trockner wird Proben für die Rasterelektronenmikroskopie das Wasser entzogen, damit sich diese mit Schwermetallen bedampfen lassen und im Raster-EM stabil sind.